[实用新型]用于检测热阵列系统弹簧老化的测试平台有效
| 申请号： | 201721416724.X | 申请日： | 2017-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN207366194U | 公开（公告）日： | 2018-05-15 |
| 发明（设计）人： | 周伟 | 申请（专利权）人： | 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司 |
| 主分类号： | G01M13/00 | 分类号： | G01M13/00;G01D21/02 |
| 代理公司： | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人： | 钟胜光 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种用于检测热阵列系统的弹簧老化的测试平台，包括：用于支撑待检测的热阵列系统的支架；设置在支架底部的多个距离传感器，用于感测支架底部到待检测热阵列系统的表面的距离；设置在支架底部的多个压力传感器，用于在待检测热阵列系统在多个距离传感器感测到距离感测结果后打开内部气囊后，感测内部气囊对支架底部的压力；以及与多个距离传感器和多个压力传感器电连接的弹簧老化检测机构，用于基于多个距离传感器的多个距离感测结果和多个压力传感器的多个压力感测结果来确定待检测热阵列系统的弹簧是否老化。利用该测试平台，可以有效地测量热阵列系统的弹簧是否老化。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 阵列 系统 弹簧 老化 测试 平台 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测热阵列系统的弹簧老化的测试平台，其特征在于，所述测试平台包括：支架；用于支撑待检测的热阵列系统；设置在所述支架底部的多个距离传感器，用于感测所述支架底部到所述待检测热阵列系统的表面的距离；设置在所述支架底部的多个压力传感器，用于在所述待检测热阵列系统在所述多个距离传感器感测到距离感测结果后打开内部气囊后，感测所述内部气囊对所述支架底部的压力；以及与所述多个距离传感器和所述多个压力传感器电连接的弹簧老化检测机构，用于基于所述多个距离传感器的多个距离感测结果和所述多个压力传感器的多个压力感测结果来确定所述待检测热阵列系统的弹簧是否老化。
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