[实用新型]一种改进的晶硅电池密栅测试装置有效
申请号: | 201721470604.8 | 申请日: | 2017-11-07 |
公开(公告)号: | CN207573312U | 公开(公告)日: | 2018-07-03 |
发明(设计)人: | 焦朋府;郭岂宏;郭鹏;孟汉堃;高明霞;苑虎 | 申请(专利权)人: | 山西潞安太阳能科技有限责任公司 |
主分类号: | H02S50/10 | 分类号: | H02S50/10 |
代理公司: | 太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 | 代理人: | 李富元 |
地址: | 046000 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | 一种改进的晶硅电池密栅测试装置,一种改进的晶硅电池密栅测试装置,包括电池片(3)、用于传送电池片的皮带(7)、上探针排、下探针排、上探针座(1)、下探针座(5)、温度测试仪(8),上探针排由两个相同的并列排放的上探针装置(2)构成,下探针排由中间的中下探针装置(4)和左右两侧的侧下探针装置(6)组成,上探针装置(2)上有12列探针,每列探针有10根探针,中下探针装置(4)有8列探针,每列探针有10根,侧下探针装置(6)有两个,每个侧下探针装置(6)有两列探针,温度测试仪(8)安装在中下探针装置(4)的探针间缝隙中。 | ||
搜索关键词: | 探针装置 探针 探针排 测试装置 晶硅电池 密栅 温度测试仪 电池片 探针座 改进 并列排放 左右两侧 皮带 传送 | ||
【主权项】:
1.一种改进的晶硅电池密栅测试装置,其特征在于:包括电池片(3)、用于传送电池片的皮带(7)、上探针排、下探针排、上探针座(1)、下探针座(5)、温度测试仪(8),上探针排由两个相同的并列排放的上探针装置(2)构成,下探针排由中间的中下探针装置(4)和左右两侧的侧下探针装置(6)组成,上探针装置(2)上有12列探针,每列探针有10根探针,中下探针装置(4)有8列探针,每列探针有10根,侧下探针装置(6)有两个,每个侧下探针装置(6)有两列探针,温度测试仪(8)安装在中下探针装置(4)的探针间缝隙中。
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