[实用新型]频域介电响应测试的温度校正设备及测试设备

摘要

本申请涉及频域介电响应测试的温度校正设备及测试设备。在频域介电谱FDS测试之前，测量电介质的温度。将高频信号施加到电介质上，得到电介质在高频信号下的介质损耗参数。根据FDS测试之前测量得到的电介质的温度，以及电介质在高频信号下的介质损耗参数，确定在高频信号下介质损耗参数与温度的对应关系。在对FDS测试时，将高频信号与待测频率信号合成，然后施加到电介质上，得到合成信号在各频点的介质损耗参数。根据合成信号各频点的介质损耗参数，以及根据高频信号下介质损耗参数与温度的对应关系，确定同一温度下待测频率信号的各频点的介质损耗参数。本申请实施例实现了精确的频域介电响应测试，能够应用于绝缘诊断领域。

主权项

1.一种频域介电响应测试的温度校正设备，其特征在于，所述设备包括温度测量电路、信号合成电路、高压放大电路、信号处理电路、校正电路；所述温度测量电路与所述信号处理电路相连，以便所述温度测量电路将在频域介电谱FDS测试之前测量的电介质的温度，发送给所述信号处理电路；所述信号处理电路与所述校正电路相连，以便所述信号处理电路将其得到的所述电介质在高频信号下的介质损耗参数，以及所述高频信号下的介质损耗参数与所述FDS测试之前电介质温度的对应关系，发送给所述校正电路；所述信号合成电路与所述高压放大电路相连，以便所述信号合成电路将所述高频信号与待测频率信号合成的信号发送给所述高压放大电路；所述高压放大电路与所述信号处理电路相连，以便所述高压放大电路将所述合成信号放大后发送给所述信号处理电路，从而使所述信号处理电路得到所述合成信号在各频点的介质损耗参数；所述信号处理电路与所述校正电路相连，以便所述校正电路根据来自所述信号处理电路的所述合成信号各频点的介质损耗参数，以及根据所述高频信号下所述电介质的介质损耗参数与所述电介质温度的对应关系，确定同一温度下所述待测频率信号的各频点的介质损耗参数。