[实用新型]一种用于FPC电测的测试架有效
| 申请号： | 201721487233.4 | 申请日： | 2017-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN207074251U | 公开（公告）日： | 2018-03-06 |
| 发明（设计）人： | 张道兵;谌新安 | 申请（专利权）人： | 深圳市三德冠精密电路科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司44384 | 代理人： | 梁炎芳,谢亮 |
| 地址： | 518000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于FPC电测的测试架，测试架安装在测试机上，且所述测试架上植有用于FPC电测的探针。所述测试架包括一矩形主板，所述矩形主板的两长边对称设有若干用于植针的金手指，任意对称的两金手指通过焊接线路电连接。若干所述金手指沿所述矩形主板的长度方向均匀且相互并行排布，位于所述矩形主板同一长边任意两相邻的金手指的自由端部末端与矩形主板之间的间距均不相等，且位于所述矩形主板同一长边的任意金手指的自由端部较同一金手指的其他部分的横截面要宽。本实用新型技术方案简单实用，增加了测试架金手指的宽度，降低了成本及电测的误测率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 fpc 测试 | ||
【主权项】：
一种用于FPC电测的测试架，测试架安装在测试机上，且所述测试架上植有用于FPC电测的探针，其特征在于，所述测试架包括一矩形主板，所述矩形主板的两长边对称设有若干用于植针的金手指，任意对称的两金手指通过焊接线路电连接；若干所述金手指沿所述矩形主板的长度方向均匀且相互并行排布，位于所述矩形主板同一长边任意两相邻的金手指的自由端部末端与矩形主板之间的间距均不相等，且位于所述矩形主板同一长边的任意金手指的自由端部较同一金手指的其他部分的横截面要宽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市三德冠精密电路科技有限公司，未经深圳市三德冠精密电路科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201721487233.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种自动化的防静电屏蔽袋测试装置
- 下一篇：一种接地阻抗测试仪点检工装
