[实用新型]辐照环境用低暗计数单光子探测装置有效
| 申请号： | 201721510117.X | 申请日： | 2017-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN208350205U | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 廖胜凯;杨孟;蔡文奇;任继刚;印娟;曹蕾;彭承志;潘建伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种辐照环境用低暗计数单光子探测装置。其中，装置包括雪崩光电二极管，用于在盖革模式下，探测输入的单光子量级光信号；一级制冷结构，用于根据控制信号，控制雪崩光电二极管器件的安装环境温度；温度采集模块，用于采集雪崩光电二极管的温度信号；温度控制算法模块，用于接收雪崩光电二极管的温度信号，并根据雪崩光电二极管的温度以及其当前的目标温度分析出需要的温度控制信号；温度控制电路，用于根据温度控制算法模块给出的温度控制信号，生成驱动控制信号；热电制冷模块，用于调节雪崩光电二极管的温度。该装置有效地抑制辐照引起的暗计数增加速度，解决了辐照环境应用低暗计数单光子探测器的难题。 | ||
| 搜索关键词： | 雪崩光电二极管 辐照环境 温度控制算法模块 单光子探测装置 温度控制信号 温度信号 单光子探测器 驱动控制信号 热电制冷模块 温度采集模块 温度控制电路 辐照 安装环境 盖革模式 控制信号 温度分析 一级制冷 单光子 有效地 探测 采集 应用 | ||
【主权项】：
1.一种辐照环境用低暗计数单光子探测装置，其特征在于，包括：雪崩光电二极管，用于工作在盖革模式下，探测输入的单光子量级光信号；一级制冷结构，用于控制雪崩光电二极管器件的安装环境温度；温度采集模块，包括热敏电阻和与热敏电阻电性连接的温度采集电路，用于采集雪崩光电二极管的温度信号；温度控制算法模块，用于接收所述雪崩光电二极管的温度信号，并根据雪崩光电二极管的温度以及其当前的目标温度分析出需要的温度控制信号；温度控制电路，用于根据温度控制算法模块给出的温度控制信号，生成驱动控制信号；热电制冷模块，作为二级制冷结构，用于根据所述驱动控制信号，进一步调节雪崩光电二极管的温度。
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