[实用新型]一种大尺寸千分尺测微头检测辅助装置有效

专利信息
申请号: 201721581058.5 申请日: 2017-11-23
公开(公告)号: CN207528133U 公开(公告)日: 2018-06-22
发明(设计)人: 吴方荣 申请(专利权)人: 昆山市计量检测中心
主分类号: G01B3/18 分类号: G01B3/18
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 胡彬
地址: 215300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种大尺寸千分尺测微头检测辅助装置,包括检测架和多个紧固件,检测架包括底座、与底座垂直连接的检测杆、固定在检测杆自由端的检定台,检定台上设有贯穿的第一检测孔,第一检测孔的中心线与检定台的中心线重合,底座上设有贯穿的且与第一检测孔同轴的第二检测孔,第一检测孔与第二检测孔供千分尺的测杆穿过;各紧固件能够分别穿过底座和检定台、将千分尺的测杆紧固在第一检测孔与第二检测孔中。本实用新型利用检定台对千分尺的测微头进行对零,底座上的三个螺钉可调节检定台的轴线与千分尺的测杆的轴线在一条直线上,使千分尺的测杆平衡地置于第一检测孔与第二检测孔中,检测快捷简单方便,大大提高了检测准确度。
搜索关键词: 千分尺 检测孔 检定台 第二检测 测杆 底座 测微头 检测辅助装置 本实用新型 检测杆 检测架 紧固件 穿过 中心线重合 底座垂直 准确度 螺钉 可调节 检测 贯穿 检定 紧固 同轴 平衡 自由
【主权项】:
1.一种大尺寸千分尺测微头检测辅助装置,其特征在于,包括检测架和多个紧固件,其中,所述检测架包括底座、与所述底座垂直连接的检测杆、固定在所述检测杆自由端的检定台,所述检定台上设有贯穿的第一检测孔,所述第一检测孔的中心线与所述检定台的中心线重合,所述底座上设有贯穿的且与所述第一检测孔同轴的第二检测孔,所述第一检测孔与所述第二检测孔供所述千分尺的测杆穿过;各所述紧固件能够分别穿过所述底座和所述检定台、将所述千分尺的测杆紧固在所述第一检测孔与所述第二检测孔中。
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