[实用新型]基于紧缩场的天线测量系统有效
| 申请号： | 201721661562.6 | 申请日： | 2017-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN207516471U | 公开（公告）日： | 2018-06-19 |
| 发明（设计）人： | 陈奕铭 | 申请（专利权）人： | 陈奕铭 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 何星民 |
| 地址： | 570203 海*** | 国省代码： | 海南;46 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种基于紧缩场的天线测量系统，包括：安装架；承载于所述安装架并按照预定角度倾斜设置的反射板，所述反射板朝向地面一侧为反射面；承载于地面且位于所述反射板下方、用于承载待测器件的转台；以及，承载于所述安装架的一侧、用于向所述反射板发射检测信号的馈源，所述检测信号经反射板反射后辐射至待测器件上。本实用新型的基于紧缩场的天线测量系统可对大型的待测器件进行检测，同时待测器件直接放置在转台的承载面上即可进行测试，而无需使用夹具进行夹持固定，因此在更换测量面时省去了固定待测器件的过程，使测量过程更加快捷方便，尤其是对于PCB板等被测器件，进行大批量测试时更加方便。 | ||
| 搜索关键词： | 待测器件 反射板 承载 天线测量系统 安装架 紧缩场 本实用新型 转台 夹具 发射检测信号 预定角度倾斜 测试 被测器件 测量过程 夹持固定 检测信号 直接放置 测量面 大型的 反射面 馈源 反射 辐射 检测 | ||
【主权项】：
1.一种基于紧缩场的天线测量系统，其特征在于，包括：安装架(1)；承载于所述安装架(1)并按照预定角度倾斜设置的反射板(2)，所述反射板(2)朝向地面一侧为反射面(21)；承载于地面且位于所述反射板(2)下方、用于承载待测器件的转台(3)；承载于所述安装架(1)的一侧、用于向所述反射板(2)发射检测信号的馈源(4)，所述检测信号经反射板(2)反射后辐射至待测器件上。
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