[实用新型]用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统有效
| 申请号： | 201721746135.8 | 申请日： | 2017-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN207636185U | 公开（公告）日： | 2018-07-20 |
| 发明（设计）人： | 闫亚东;何俊华;许瑞华;齐文博;韦明智;吴冰静 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 陈广民 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型属于光学测量技术领域，具体涉及一种用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，该系统包括多个具有同一离轴抛物面面型的反射型散射板，所有反射型散射板的反射面位于同一个抛物面上，所述抛物面的焦点处设置有探头组。本实用新型采用一个探头组直接对多个反射型散射板的漫反射光叠加信号进行测量，具体包括空间分布测量、光谱测量、时间测量、能量测量等，本实用新型显著简化了取样和测量光路，具有效率高、体积小、光路简单、能量损伤阈值高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 本实用新型 反射型 散射板 背向散射光 测量系统 抛物面 全孔径 探头组 光路 集束 激光 测量 光学测量技术 离轴抛物面 取样和测量 叠加信号 光谱测量 空间分布 漫反射光 能量测量 时间测量 反射面 焦点处 体积小 面型 损伤 | ||
【主权项】：
1.一种用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，其特征在于：包括多个具有同一离轴抛物面面型的反射型散射板，所有反射型散射板的反射面位于同一个抛物面上，所述抛物面的焦点处设置有探头组。
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