[实用新型]基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统有效

专利信息
申请号: 201721746908.2 申请日: 2017-12-14
公开(公告)号: CN207636186U 公开(公告)日: 2018-07-20
发明(设计)人: 闫亚东;何俊华;许瑞华;齐文博;韦明智;吴冰静 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/44 分类号: G01J3/44;G01J3/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 陈广民
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型属于光学测量技术领域,具体涉及一种基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,该系统包括离轴抛物面型散射板和位于离轴抛物面型散射板焦点处的探头组,所述探头组包括两个能量测量单元、两个时间测量单元、两个光谱测量单元、一个标定探头单元和一个空间分布测量单元。本实用新型采用一个探头组直接对离轴抛物面型散射板的漫反射光进行测量,具体包括空间分布测量、光谱测量、时间测量、能量测量等,显著简化了取样和测量光路,克服了采用长焦聚焦镜的系统体积庞大的缺点,特别适合于多束激光合束打靶的情况,能够满足大规模激光驱动装置全孔径背向散射诊断的需求。
搜索关键词: 散射板 离轴抛物面 全孔径 探头组 背向散射光 本实用新型 测量系统 光谱测量 空间分布 散射 取样 测量 光学测量技术 激光驱动装置 能量测量单元 时间测量单元 取样和测量 背向散射 测量单元 多束激光 漫反射光 能量测量 时间测量 探头单元 焦点处 聚焦镜 标定 长焦 光路 合束 诊断
【主权项】:
1.一种基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:包括离轴抛物面型散射板和位于离轴抛物面型散射板焦点处的探头组,所述探头组包括两个能量测量单元、两个时间测量单元、两个光谱测量单元、一个标定探头单元和一个空间分布测量单元;两个能量测量单元分别用于进行长波能量测量和短波能量测量,两个时间测量单元分别用于进行长波时间测量和短波时间测量,两个光谱测量单元分别用于进行长波光谱测量和短波光谱测量。
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