[实用新型]金刚石纳米全光学磁场传感器、探针及原子力显微镜有效
申请号: | 201721787892.X | 申请日: | 2017-12-19 |
公开(公告)号: | CN208125759U | 公开(公告)日: | 2018-11-20 |
发明(设计)人: | 孙方稳;陈向东;李燊;赵博文;郭光灿 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01Q60/26 | 分类号: | G01Q60/26;G01Q70/10;G01Q70/14 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种金刚石纳米全光学磁场传感器、探针及原子力显微镜。其中,金刚石纳米全光学磁场传感器包括:含有氮‑空位色心的金刚石纳米结构,配置为在不同的磁场下改变荧光寿命和光致发光强度;光致发光检测器件和/或荧光寿命检测器件,所述光致发光检测器件配置为检测所述荧光寿命,荧光寿命检测器件配置为检测所述光致发光强度。 | ||
搜索关键词: | 金刚石纳米 磁场传感器 全光学 荧光寿命检测 原子力显微镜 检测 光致发光 器件配置 荧光寿命 探针 本实用新型 空位 色心 磁场 配置 | ||
【主权项】:
1.一种金刚石纳米全光学磁场传感器,其特征在于包括:含有氮‑空位色心的金刚石纳米结构,配置为在不同的磁场下改变荧光寿命和光致发光强度;光致发光检测器件和/或荧光寿命检测器件,所述光致发光检测器件配置为检测所述荧光寿命,荧光寿命检测器件配置为检测所述光致发光强度。
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