[实用新型]测试连接装置及测试系统有效

专利信息
申请号: 201721788353.8 申请日: 2017-12-19
公开(公告)号: CN207689632U 公开(公告)日: 2018-08-03
发明(设计)人: 张皓渊 申请(专利权)人: 成都天可精创科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01N1/04
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 吴莎
地址: 610000 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型提供一种测试连接装置及测试系统,涉及测试设备技术领域。测试连接装置包括基板、插针及固定部,基板上设置有呈阵列排布的插孔,所述基板的至少部分插孔可拆卸设置有所述插针,所述插针用于与待测板卡的测试点接触,以接收测试点输出的数据信号。固定部用于压合卡固基板和待测板卡,以使插针与测试点接触,进而对待测板卡进行测试。本方案通过插针直接与测试点接触,基板用于固定并隔离插针,测试人员可基于待测板卡的测试点设置插针,快组装成用于连接待测板卡的连接头,便于与同类型的待测板卡连接并进行测试,进而有助于提升测试进程,提高测试效率。
搜索关键词: 插针 基板 测试点 待测板 测试连接装置 测试系统 固定部 测试 测板 插孔 本实用新型 可拆卸设置 测试进程 测试设备 测试效率 接收测试 数据信号 阵列排布 卡连接 连接头 卡固 压合 组装 隔离 输出
【主权项】:
1.一种测试连接装置,应用于具有至少一个测试点的待测板卡,其特征在于,所述测试连接装置包括基板、插针及固定部,其中:所述基板设置有呈阵列排布的插孔,所述基板的至少部分插孔可拆卸设置有所述插针,所述插针用于与所述待测板卡的测试点接触,所述固定部用于固定所述基板和待测板卡并使所述插针与测试点接触,以使所述插针接收所述测试点输出的数据信号。
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