[实用新型]一种轴承套圈综合测量仪表台有效
| 申请号： | 201721836960.7 | 申请日： | 2017-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN207763687U | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 李惠祥 | 申请（专利权）人： | 长兴衡鑫仪表科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30;G01B21/32 |
| 代理公司： | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人： | 王桂名 |
| 地址： | 313100 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种轴承套圈综合测量仪表台，包括套圈挟持台面、上端面翘曲测量机构、下端面翘曲测量机构和外圈平整度测量机构，所述的套圈挟持台面用于固定轴承套圈；所述的上端面翘曲测量机构可上下移动的第一仪表，用于测量上端面的翘曲度；所述的下端面翘曲测量机构包括可上下移动的第二仪表，用于测量下端面的翘曲度；所述的外圈平整度测量机构包括可左右移动的第三仪表，用于测量外圈的平整度。本实用新型能一次性测量轴承套圈上下两端端面翘曲度以及外圈平整度的测量仪表台，减轻了检测工人的劳动量，增加了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 翘曲测量 轴承套圈 翘曲度 套圈 平整度测量机构 综合测量仪表 仪表 可上下移动 测量 台面 平整度 上端面 下端面 挟持 本实用新型 可左右移动 一次性测量 测量仪表 固定轴承 上下两端 上端 检测 下端 | ||
【主权项】：
1.一种轴承套圈综合测量仪表台，其特征在于：包括套圈挟持台面、上端面翘曲测量机构、下端面翘曲测量机构和外圈平整度测量机构，所述的套圈挟持台面包括底板，底板上设有圆柱和圆环，圆柱和圆环之间的底板设有镂空部分，镂空部分设有条板，条板的两端分别连接在圆柱和圆环的底面，圆环上设有若干调节螺杆和一个挟持杆；所述的上端面翘曲测量机构包括第一立柱，第一立柱的下端与底板的上表面固定连接，第一立柱外圈套设有第一滑动块，第一滑动块上连接有第一悬臂，第一悬臂上设有第一仪表；所述的下端面翘曲测量机构包括第二立柱，第二立柱的上端与底板的下表面固定连接，第二立柱外圈套设有第二滑动块，第二滑动块上连接有第二悬臂，第二悬臂上设有第二仪表；所述的外圈平整度测量机构包括水平滑动块，水平滑动块的上表面设有仪表安装座，仪表安装座上设有第三仪表，第三仪表的顶针穿过圆环。
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