[实用新型]X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统有效

专利信息
申请号: 201721864674.1 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN207675676U 公开(公告)日: 2018-07-31
发明(设计)人: 李瑞;周超;宋春苗;胡学强;袁良经;刘明博;胡少成 申请(专利权)人: 钢研纳克检测技术股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙) 11248 代理人: 李彬;张小娟
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及一种用于顺序式波长色散X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统。系统包括操作界面模块、晶体架控制模块、测角仪θ轴与2θ轴高精度步进电机控制模块、探测器数据采集模块、数据图像处理模块;系统选择被测元素谱线作为标定测角仪的基准谱线,通过布拉格方程计算出晶体掠射角与探测器出射角,将测角仪的θ轴与2θ轴旋转到指定位置,通过控制安装在θ轴与2θ轴的步进电机、晶体架、探测器实现对晶体与探测器位置的自动调整,获得晶体校正因子,从而对晶体掠射角与探测器出射角进行校正。本实用新型实现对分光光路的远程自动调试,保护调试人员免受X射线辐射,减少对调试人员调试经验的依赖,提高调试效率与精度。
搜索关键词: 探测器 调试 本实用新型 分光光路 校正系统 自动调试 出射角 晶体架 掠射角 测角 步进电机控制模块 操作界面模块 数据图像处理 远程自动调试 探测器数据 探测器位置 波长色散 步进电机 采集模块 调试效率 方程计算 控制模块 系统选择 校正因子 元素谱线 测角仪 基准谱 轴旋转 标定 校正
【主权项】:
1.一种X射线荧光光谱仪的分光光路自动调试与校正系统,所述X射线荧光光谱仪为顺序式波长色散X射线荧光光谱仪,包括探测器(6)、测角仪、晶体架和多个分光用晶体,测角仪的θ轴与2θ轴分别搭载选定的晶体和探测器,其特征在于:该系统包括:操作界面模块(1)、晶体架控制模块(2)、测角仪θ轴与2θ轴高精度步进电机控制模块(3)、探测器数据采集模块(4)和数据图象处理模块(5);所述晶体架控制模块(2)将选定的晶体切换到分光光路中;用户通过操作界面模块(1)设置测角仪θ轴与2θ轴的扫描范围以及扫描间隔与探测器采集时间;所述测角仪θ轴与2θ轴高精度步进电机控制模块(3)调整所述θ轴与2θ轴、根据扫描范围依次将晶体与探测器旋转到指定位置;所述探测器数据采集模块(4)对该指定位置的X射线强度进行采集,并将采集信息送入所述数据图象处理模块(5)进行处理,最终建立直观立体的三维数据模型,计算出对应的校正因子,并将信息回传至作界面模块(1)进行显示。
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