[实用新型]一种晶体管芯片性能测试机构有效
| 申请号： | 201721894348.5 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN207908630U | 公开（公告）日： | 2018-09-25 |
| 发明（设计）人： | 赵一峰;冯鑫 | 申请（专利权）人： | 无锡市玉祁红光电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 214183 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种晶体管芯片性能测试机构，包括底座，所述底座上固定连接有支座，且底座上固定连接有安装座，所述安装座上能水平移动的设置有测试针组件，且安装座上设置有用于压紧固定测试针组件的压板，所述测试针组件包括能水平移动的连接在安装座上的调节块及连接于调节块上的2个测试针，所述测试针具有弹性，且测试针的长度为20mm～50mm，所述支座上设置有用于带动测试针下压的下压组件。所述一种晶体管芯片性能测试机构具有结构简单、紧凑，体积小的特点，且其测试针具有一定弹性，并通过合理控制其长度，从而可减小压测力度，避免晶体管引脚损坏的同时，延长了测试针的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 测试针 安装座 测试针组件 晶体管芯片 性能测试 底座 本实用新型 晶体管引脚 使用寿命 下压组件 压紧固定 减小 下压 压板 紧凑 | ||
【主权项】：
1.一种晶体管芯片性能测试机构，其特征在于：包括底座，所述底座上固定连接有支座，且底座上固定连接有安装座，所述安装座上能水平移动的设置有测试针组件，且安装座上设置有用于压紧固定测试针组件的压板，所述测试针组件包括能水平移动的连接在安装座上的调节块及连接于调节块上的2个测试针，所述测试针具有弹性，且测试针的长度为20mm～50mm，所述支座上设置有用于带动测试针下压的下压组件。
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