[实用新型]一种新的RTC芯片自动分选系统

摘要

本实用新型提供了一种新的RTC芯片自动分选系统包括FPGA单元、ARM单元、时钟源单元、静态功耗测量单元、RTC操作台、RTC芯片、PC端和电源，其中，PC端配置RTC主控软件，电源为FPGA单元、ARM单元、静态功耗测量单元和RTC芯片供电。本实用新型的RTC芯片自动分选系统自动能够完成RTC芯片静态电流的有效测量，自动剔除静态电流过大的RTC芯片，减少不合格RTC芯片芯片进入后续的生产环节，节省经济成本。而且，本实用新型的RTC芯片自动分选系统能够实现对RTC芯片功能测量，利用RTC操作机台自动剔除功能异常的RTC芯片，节约测试时间。

主权项

1.一种新的RTC芯片分选系统，其特征在于，所述RTC芯片分选系统包括FPGA单元、ARM单元、时钟源单元、静态功耗测量单元、RTC操作台、RTC芯片、PC端和电源，其中，PC端配置RTC主控软件，电源为FPGA单元、ARM单元、静态功耗测量单元和RTC芯片供电；PC端通过USB转串口相互连接ARM单元并通信，向ARM单元发出指令，并将FPGA单元的测试数据通过串口发送给PC端，PC端通过其RTC主控软件设置RTC芯片的电压值，将RTC芯片的电压值发送给ARM单元，由ARM单元控制输出不同电压等级的电源供RTC芯片使用，以验证RTC芯片在电压1.8V~5.0V范围内是否能够正常工作；FPGA单元还控制RTC芯片输出指定频率信号，以供FPGA单元进行时钟频率测量，时钟源单元为FPGA单元提供高精度的10Mhz信号作为参考时钟基准，以测量RTC芯片的时钟频率；静态功耗测量单元连接RTC芯片，并测量RTC芯片的静态电流值，通过串口将测量的电流值发送给PC端；ARM单元通过I2C接口相互连接FPGA单元并通信，FPGA单元与RTC芯片相互连接，控制RTC芯片输出指定频率信号，以供FPGA单元进行时钟频率测量，ARM单元向FPGA单元发出指令，控制FPGA单元测试RTC芯片的频率，并将RTC芯片频率的测试结果发送到ARM单元，RTC操作机台根据ARM单元反馈的测试结果，判断被测试的RTC芯片是否合格，并利用其机械装置，自动对被测试的RTC芯片进行分类，筛选出合格与不合格的RTC芯片。