[外观设计]耗材芯片复位仪的配套测试头（T3-1）有效
| 申请号： | 201730462603.8 | 申请日： | 2017-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN304618650S | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 陈竞豪 | 申请（专利权）人： | 珠海艾派克微电子有限公司 |
| 主分类号： | 10-05 | 分类号： | 10-05 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 519075 广东省珠*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 1．本外观设计产品的名称：耗材芯片复位仪的配套测试头（T3‑1）。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于耗材芯片复位仪的配套测试头包含手柄(组件1)和探针头（组件2），用于连接到耗材芯片复位仪，复位仪通过测试头接收和传输信号，以实现对打印耗材芯片检测、复位或芯片数据更新。3．本外观设计产品的设计要点：测试头的整体形状，手柄和探针头的组合形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：组合状态立体图。5．省略视图：组合状态除立体图外无设计要点，因此省略其他视图。 | ||
| 搜索关键词： | 耗材 芯片 复位 配套 测试 t3 | ||
【主权项】：
暂无信息
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