[外观设计]多探头电路测试仪有效
| 申请号： | 201730583322.8 | 申请日： | 2017-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN304682672S | 公开（公告）日： | 2018-06-15 |
| 发明（设计）人： | 大卫·F.·布雷克;迈克尔·G.·霍尔登;韦恩·拉塞尔;约书亚·卡顿 | 申请（专利权）人： | 施耐宝公司 |
| 主分类号： | 10-05 | 分类号： | 10-05 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 何冲 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 1．本外观设计产品的名称：多探头电路测试仪。2．本外观设计产品的用途：用于测试电路的仪器。3．本外观设计产品的设计要点：在于产品的外形设计。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。 | ||
| 搜索关键词： | 外观设计 电路测试仪 多探头 测试电路 外形设计 图片 | ||
【主权项】：
暂无信息
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