[发明专利]调试器以及芯片调试方法在审

专利信息
申请号: 201780002028.0 申请日: 2017-12-07
公开(公告)号: CN110249316A 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 冯守川 申请(专利权)人: 深圳市汇顶科技股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 518045 广东省深*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种调试器(10)以及芯片调试方法。调试器(10)包括至少一仿真外设接口(2);仿真外设接口(2)连接于调试器(10)的微处理器(1),且用于与被测芯片(5)的至少一外设接口连接(8),仿真外设接口(2)被配置为具有支持一测试项进行测试的功能(101);在测试项的测试过程中,通过仿真外设接口(2)将测试项对应的测试数据传输至被测芯片(5)(102)。该方法无需测试人员手动操作,提升了测试效率;无需购买外设便能完成与外设相关的测试,降低了测试成本。
搜索关键词: 外设接口 调试器 测试项 被测芯片 芯片调试 测试 外设 测试数据传输 微处理器 测试成本 测试过程 测试效率 配置 购买
【主权项】:
PCT国内申请,权利要求书已公开。
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