[发明专利]校准装置和包括该校准装置的气体组分分析设备有效
| 申请号： | 201780002559.X | 申请日： | 2017-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN107850547B | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 崔镕三 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱森莱 |
| 主分类号： | G01N21/76 | 分类号： | G01N21/76;G01N1/20 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;刘久亮 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及能够简单且快速地执行用于提高气体组分分析设备的测量值的准确性和可靠性的校准工作的校准装置和包括该校准装置的气体组分分析设备。为此，本发明的校准装置是用于校准气体组分分析设备的校准装置，该气体组分分析设备通过检测器来检测通过分离管而分离为单一组分的样气的组分并分析该组分，其中，该校准装置连接至用于向分离管提供气体的供应管，以通过供应管来将彼此具有不同浓度的多种校准气体依次提供给分离管。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 装置 包括 气体 组分 分析 设备 | ||
【主权项】：
一种校准装置，该校准装置用于通过由检测器检测样气的组分来校准用于进行分析的气体组分分析设备，所述样气的组分通过分离单元而被分离为单一组分，其中，所述分离单元连接至向所述分离单元提供气体的供应管，并且通过调整具有一种浓度的校准气体的体积比来被调整为具有彼此不同的浓度的多种校准气体是通过所述供应管被依次提供给所述分离单元的。
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