[发明专利]形状测定装置和形状测定方法在审
| 申请号： | 201780002621.5 | 申请日： | 2017-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN107850422A | 公开（公告）日： | 2018-03-27 |
| 发明（设计）人： | 今野雄介;小林尊道;赤木俊夫;日比厚裕;古家顺弘;中崎昭仁 | 申请（专利权）人： | 新日铁住金株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01N21/892 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 抑制斑点噪声的产生并更高速且更高精度地测定由金属体构成的带状体的表面形状。本发明所涉及的形状测定装置具备线状光源，其由超发光二极管构成，对所述带状体的表面照射在所述带状体的宽度方向上扩散的线状光；屏幕，其被投射所述带状体的表面上的所述线状光的反射光；面阵摄像机，其对投射在所述屏幕上的所述线状光的反射光进行拍摄；以及运算处理装置，其使用由所述面阵摄像机拍摄到的所述线状光的反射光的摄像图像来计算所述带状体的表面形状，其中，所述线状光源的光谱半宽为20nm以上，并且所述线状光源被配置为所述线状光源的光轴同所述带状体的表面法线方向所形成的角θ与所述线状光的波长λ满足同所述带状体的镜面性有关的式(I)。 | ||
| 搜索关键词： | 形状 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种形状测定装置，对由金属体构成的带状体的表面形状进行测定，该形状测定装置具备：线状光源，其由超发光二极管构成，对所述带状体的表面照射在所述带状体的宽度方向上扩散的线状光；屏幕，其被投射所述带状体的表面上的所述线状光的反射光；面阵摄像机，其对投射在所述屏幕上的所述线状光的反射光进行拍摄；以及运算处理装置，其使用由所述面阵摄像机拍摄到的所述线状光的反射光的摄像图像来计算所述带状体的表面形状，其中，所述线状光源的光谱半宽为20nm以上，并且所述线状光源被配置为所述线状光源的光轴同所述带状体的表面法线方向所形成的角θ与所述线状光的波长λ满足同所述带状体的镜面性有关的以下的式(I)。[数1]
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