[发明专利]使用多个非侵入式传感器估计物质浓度在审
| 申请号： | 201780002763.1 | 申请日： | 2017-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN107924715A | 公开（公告）日： | 2018-04-17 |
| 发明（设计）人： | 泰耶·韦加尔·卡尔斯坦戈 | 申请（专利权）人： | 普雷迪科特医疗有限公司 |
| 主分类号： | G16H50/50 | 分类号： | G16H50/50;A61B5/1455;A61B5/053 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人： | 王小衡,王天鹏 |
| 地址： | 挪威腓*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种用于确定材料中的物质的水平的方法。该方法包括从第一非侵入式传感器获得第一测量出的光谱，所述第一测量出的光谱涉及所述材料的第一特性；从第二非侵入式传感器获得第二测量出的光谱，所述第二测量出的光谱涉及所述材料的第二特性；基于所述第一测量出的光谱来计算所述材料中的化学成分的浓度的第一中间估计基于所述第二测量出的光谱来计算所述材料中的化学成分的浓度的第二中间估计确定第一残差光谱r1和第二残差光谱r2，所述残差光谱被定义为所述测量出的光谱和估计的光谱之间的偏差，所述估计的光谱是与所述化学成分的浓度的中间估计对应的测量出的光谱的分量；并且基于所述第一中间估计所述第二中间估计和所述残差光谱r1、r2来计算所述材料中的化学成分的改进的估计的浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 多个非 侵入 传感器 估计 物质 浓度 | ||
【主权项】：
一种用于确定材料中的化学成分的浓度的方法，包括：从第一非侵入式传感器获得第一测量出的光谱，所述第一测量出的光谱涉及所述材料的第一特性；从第二非侵入式传感器获得第二测量出的光谱，所述第二测量出的光谱涉及所述材料的第二特性；基于所述第一测量出的光谱来计算所述材料中的化学成分的浓度的第一中间估计基于所述第二测量出的光谱来计算所述材料中的化学成分的浓度的第二中间估计确定第一残差光谱r1和第二残差光谱r2，其中残差光谱被定义为所述测量出的光谱和估计的光谱之间的偏差，所述估计的光谱是与所述化学成分的浓度的中间估计对应的测量出的光谱的分量；并且基于所述第一中间估计所述第二中间估计和所述残差光谱r1、r2来计算所述材料中的化学成分的改进的估计的浓度。
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