[发明专利]对设备的性能数据进行采样的方法和装置在审
| 申请号： | 201780002849.4 | 申请日： | 2017-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN110140326A | 公开（公告）日： | 2019-08-16 |
| 发明（设计）人： | 刘金虎;陈安伟 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供了一种对设备的性能数据进行采样的方法和装置，该方法包括：确定第一预设时间段内的第一时间区间和第二时间区间，在第一时间区间中设备的性能数据的取值的变化程度小于在第二时间区间中设备的性能数据的取值的变化程度；在第一时间区间内，以第一采样间隔对第一时间区间中设备的性能数据进行采样；在第二时间区间内，以第二采样间隔对第二时间区间中设备的性能数据进行采样，其中，第一采样间隔大于第二采样间隔。本申请实施例中，基于设备的性能数据的取值的变化程度，选择对设备的性能数据进行采样使用的采样间隔，有利于减少通过对设备的性能数据进行采样得到的性能数据的数据量的同时，比较准确的反应设备的性能随时间的变化。 | ||
| 搜索关键词： | 性能数据 采样 采样间隔 时间区间 对设备 方法和装置 预设时间段 反应设备 数据量 申请 | ||
【主权项】：
PCT国内申请，权利要求书已公开。
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