[发明专利]用于对单独流体承载颗粒进行检测和/或形态分析的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201780005316.1 申请日: 2017-01-10
公开(公告)号: CN108603825B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 丹尼斯·基谢廖夫 申请(专利权)人: 普莱尔股份公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N15/14;G01N15/10;G01N21/47
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 纪雯
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于对流体承载颗粒进行检测和/或分析的测量设备,该测量设备包括:用于沿着流体流动路径产生流体流的装置(1,1′);激光器(2),该激光器被布置用于在流体流动路径的测量体积中发射激光束(20);透镜组(3),该透镜组用于收集由流体流中包含的流体承载颗粒(9)在测量体积中散射的激光(23);光电检测器(4),该光电检测器被布置用于检测由透镜组(3)收集的散射激光(23),其中透镜组(3)配置为在透镜组(3)的焦距(f2)处将散射光(23)聚焦成一条线,所述线横向于流体流在所述测量体积中的流动方向(y);并且其中光电检测器(4)是用于捕获由透镜组(3)聚焦的激光的多像素检测器,其中所述线型多像素检测器(4)被布置在距离透镜组(3)的焦距(f2)一定距离处并且被定向为其纵向轴线与所述线平行。一种用于对流体承载颗粒进行检测和/或分析的测量方法,包括以下步骤:沿着流体流动路径产生流体流,所述流体流可能包含待检测的流体承载颗粒(9);在流体流动路径的测量体积中发射激光束(20);收集由流体流中包含的流体承载颗粒(9)在测量体积中所散射的激光(23)并且在焦距(f2)处将所述散射光聚焦成一条线,所述线垂直于流体流在所述测量体积中的流动方向(y);利用线型多像素光电检测器(4)捕获所收集并聚焦的散射激光(23),该线型多像素光电检测器被布置在距离焦距(f2)一定距离处并且被定向为其纵向轴线与所述线平行;在具有由测量方法测量的最小大小的单独流体承载颗粒(9)穿过测量体积的时间期间,多次重复发射、收集和捕获步骤。
搜索关键词: 用于 单独 流体 承载 颗粒 进行 检测 形态 分析 方法 设备
【主权项】:
1.一种用于对流体承载颗粒进行检测和/或分析的测量设备,所述测量设备包括:用于沿着流体流动路径产生流体流的装置(1,1′);激光器(2),所述激光器被布置用于在所述流体流动路径的测量体积中发射激光束(20);透镜组(3),所述透镜组用于收集由所述流体流中包含的流体承载颗粒(9)在所述测量体积中散射的激光(23);光电检测器(4),所述光电检测器被布置用于检测由所述透镜组(3)收集的散射激光(23),其中:所述透镜组(3)配置为在透镜组(3)的焦距(f2)处将所述散射光(23)聚焦成线,所述线横切流体流在所述测量体积中的流动方向(y);所述光电检测器(4)是用于捕获由所述透镜组(3)聚焦的激光的多像素检测器,其中所述线型多像素检测器(4)被布置在距离所述透镜组(3)的所述焦距(f2)一定距离处并且被定向为其纵轴与所述线平行。
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