[发明专利]多平面微阵列有效
| 申请号： | 201780006200.X | 申请日： | 2017-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN108463287B | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | M.S.鲍恩;M.格瑞奇;S.S.洪;J.A.穆恩;M.萧 | 申请（专利权）人： | 亿明达股份有限公司 |
| 主分类号： | B01L3/00 | 分类号： | B01L3/00;G01N33/543;G01N33/53;C12Q1/68 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 葛青 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种阵列，包括固体载体，所述固体载体具有沿着其外表面的多个轮廓。轮廓的第一子集沿着固体载体的外表面定位以形成第一特征图案，并且轮廓的第二子集沿着外表面定位以形成第二特征图案。第一子集的轮廓与第二子集的轮廓沿着外表面并置，由此第一图案和第二图案沿着外表面形成交错图案。第一图案的特征出现在第一高度z1处，第二图案的特征出现在第二高度z2处。第一图案的特征被配置为将分析物附接在相对于附接到第二图案的特征的分析物的不同高度处。 | ||
| 搜索关键词： | 平面 阵列 | ||
【主权项】：
1.一种阵列，包括：固体载体，其包括沿着固体载体的外表面的多个轮廓，其中，轮廓的第一子集沿着固体载体的外表面定位以形成第一特征图案，并且轮廓的第二子集沿着固体载体的外表面定位以形成第二特征图案，其中，第一子集的轮廓与第二子集的轮廓沿着外表面并置，由此第一图案和第二图案沿着外表面形成交错图案，其中，第一图案的特征出现在第一高度z1处，第二图案的特征出现在第二高度z2处；并且其中，特征包括用于分析物的附接点，由此第一图案的特征被配置为将分析物附接在相对于附接到第二图案的特征的分析物的不同高度处。
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