[发明专利]为样品产生模拟输出有效
申请号: | 201780006207.1 | 申请日: | 2017-01-10 |
公开(公告)号: | CN108463876B | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | K·巴哈斯卡尔;张晶;G·H·陈;A·V·库尔卡尼;L·卡尔森迪 | 申请(专利权)人: | 科磊股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/67 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 张世俊 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供用于为样品产生模拟输出的方法及系统。一种方法包含使用一或多个计算机系统获取针对样品的信息。所述信息包含所述样品的实际光学图像、所述样品的实际电子束图像及针对所述样品的设计数据中的至少一者。所述方法还包含将针对所述样品的所述信息输入到基于学习的模型中。所述基于学习的模型包含于由一或多个计算机系统执行的一或多个组件中。所述基于学习的模型经配置以映射光学图像、电子束图像与设计数据之间的三角关系,且所述基于学习的模型将所述三角关系应用到所述输入以借此为所述样品产生模拟图像。 | ||
搜索关键词: | 样品 产生 模拟 输出 | ||
【主权项】:
1.一种经配置以为样品产生模拟输出的系统,其包括:一或多个计算机子系统,其经配置以获取针对样品的信息,其中所述信息包括所述样品的实际光学图像、所述样品的实际电子束图像及针对所述样品的设计数据中的至少一者;及一或多个组件,其由所述一或多个计算机子系统执行,其中所述一或多个组件包括基于学习的模型,其中所述基于学习的模型经配置以映射光学图像、电子束图像与设计数据之间的三角关系,其中所述一或多个计算机子系统经配置以将针对所述样品的所述信息输入到所述基于学习的模型中,且其中所述基于学习的模型将所述三角关系应用到所述输入以借此为所述样品产生模拟输出。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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