[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号： | 201780010576.8 | 申请日： | 2017-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN108603895B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 野中昂平;森高通;石泽雅人 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/10 | 分类号： | G01N35/10 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 万捷;张鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种自动分析装置，在由加热的清洗液清洗试剂探针(7a、8a)、试料探针(11a、12a)时，使第一清洗容器(23)、第二清洗容器(24)溢出第一洗净液之后，将第一清洗液吸回至清洗液加热流路(125)一次，通过加热机构(123)进行加热，在加热后将加热过的第一清洗液再次提供至第一清洗容器(23)、第二清洗容器(24)。由此，能高效地向清洗槽提供用于对分注探针进行清洗的经加热的清洗液。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种自动分析装置，在反应容器中分别对试料与试剂进行分注使试料与试剂反应，并对该反应后的液体进行测定，该自动分析装置的特征在于，包括：分注探针，该分注探针将试剂、分析对象的试料分注至反应容器；清洗容器，该清洗容器储存用于清洗所述分注探针的清洗液，将所述分注探针插入所述清洗液进行清洗；清洗液提供部，该清洗液提供部经由与所述清洗容器相连的流路将所述清洗液提供至所述清洗容器，对所述分注探针进行清洗处理；加热部，该加热部与所述流路热性相连，用于对提供至所述清洗容器的所述清洗液进行加热；以及控制部，该控制部控制所述加热部和所述清洗液提供部，从而在使所述清洗容器溢出所述清洗液之后，将所述清洗液吸回至所述流路并利用所述加热部进行加热，在加热后将经加热的所述清洗液推出至所述清洗容器。
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