[发明专利]可见性信息修改有效
申请号: | 201780014855.1 | 申请日: | 2017-01-04 |
公开(公告)号: | CN108780582B | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | V·戈尔;吴瑞金;姚永仁 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G06T15/00 | 分类号: | G06T15/00;G06T15/20;G06T19/20 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 在一实例中,用于将图形数据的3D场景再现为2D场景的方法可包含将用以从视点表示所述3D场景的2D空间划分为多个图块。所述3D场景可包含多个基元。所述方法可包含产生所述多个图块中的第一图块的可见性信息。所述方法可包含修改所述第一图块的所述可见性信息以产生所述第一图块的经修改可见性信息。所述方法可包含使用所述第一图块的所述经修改可见性信息产生所述2D场景。 | ||
搜索关键词: | 图块 可见性 场景 图形数据 信息产生 信息修改 基元 视点 | ||
【主权项】:
1.一种用于将图形数据的3D场景再现为2D场景的方法,所述方法包括:将用以从视点表示所述3D场景的2D空间划分为多个图块,其中所述3D场景包含多个基元;在第一光栅化遍次期间,根据第一光栅化像素粒度水平光栅化所述多个图块中的第一图块的仅位置数据以产生第一经光栅化第一图块;使用由所述第一光栅化遍次产生的所述第一经光栅化第一图块执行第一可见性测试;基于所述第一可见性测试产生所述多个图块中的所述第一图块的可见性信息,其中所述第一图块的所述可见性信息包含用于所述多个基元中的每一基元的值,其中用于每一基元的所述值是第一值或第二值,且其中所述第一值指示所述第一值相关联的基元将不再现,且所述第二值指示所述第二值相关联的基元将再现;在第二光栅化遍次期间,根据第二光栅化像素粒度水平光栅化由所述可见性信息识别为可见的所述第一图块的基元的仅位置数据以产生第二经光栅化第一图块,其中所述第二光栅化像素粒度水平小于或等于所述第一光栅化像素粒度水平;在根据所述第二光栅化像素粒度水平光栅化所述第一图块的同时产生所述多个图块中的第二图块的第二可见性信息;使用由所述第二光栅化遍次产生的所述第二经光栅化第一图块执行第二可见性测试;基于所述第二可见性测试修改所述第一图块的所述可见性信息以产生所述第一图块的经修改可见性信息;以及经由所述第一图块的所述经修改可见性信息再现经识别为可见的所述第一图块的基元的位置数据和颜色数据。
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