[发明专利]使用性能计数器及跟踪逻辑的性能分析有效
| 申请号： | 201780017205.2 | 申请日： | 2017-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN108885578B | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | S·T·巴特曼斯;Z·扎伊迪 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于分析处理系统的性能的系统及方法是基于位于所述处理系统的选定节点处的跟踪点中所提供的性能计数器。如果在第一跟踪点处通过性能计数器检测事务超过阈值次数，那么在所述第一跟踪点处将待监测的第一事务识别为待监测的事务。第一跟踪标记识别符在所述第一跟踪点处与所述第一事务相关联。基于所述第一跟踪标记识别符在一或多个其它跟踪点处识别所述第一事务。基于在所述跟踪点处识别所述第一事务的时戳，从各种跟踪点获得例如所述第一事务的跟踪信息、时延、消耗装置的位置等信息。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 性能 计数器 跟踪 逻辑 分析 | ||
【主权项】：
1.一种分析处理系统的性能的方法，所述方法包括：在所述处理系统的第一跟踪点处将第一事务识别为待监测的事务；在所述第一跟踪点处将第一跟踪标记识别符与所述第一事务相关联；及基于所述第一跟踪标记识别符在所述处理系统的一或多个其它跟踪点处识别所述第一事务。
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