[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 201780017289.X 申请日: 2017-01-31
公开(公告)号: CN108780102B 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 千田早织;有贺洋一;安居晃启;村松由规;井上阳子;为实秀人 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N35/02;G01N35/10
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 金成哲;王莉莉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供能自动地测定探针、搅拌件等的水带入量并容易地确认在具备水滴除去机构的情况下是否正常地发挥功能的自动分析装置。具备探针或与液体接触来进行搅拌的搅拌件等清洗对象部件、用清洗液清洗清洗对象部件的清洗槽、及测定收纳于反应盒的评价用试剂的光学特性的测定部,控制部使在清洗槽中清洗后的清洗对象部件与评价用试剂接触,并使测定部测定评价用试剂的接触后的光学特性,并基于测定出的光学特性来计算清洗对象部件将清洗液带入反应盒的带入量。
搜索关键词: 自动 分析 装置
【主权项】:
1.一种自动分析装置,其特征在于,具备:清洗对象部件,其是向反应盒分注试剂的试剂探针、向反应盒分注试样的试样探针、以及与反应盒内的液体接触并进行搅拌的搅拌机构中的任一个;清洗槽,其用清洗液清洗上述清洗对象部件;测定部,其测定收纳于反应盒的评价用试剂的光学特性;以及控制部,其控制上述清洗对象部件和上述清洗槽以及上述测定部,上述控制部使在上述清洗槽中清洗后的上述清洗对象部件与该评价用试剂接触,上述控制部使上述测定部测定该评价用试剂的接触后的上述光学特性,并基于测定出的上述光学特性,来计算上述清洗对象部件将清洗液带入反应盒的带入量。
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