[发明专利]磁检测单元及具备该磁检测单元的行程检测装置在审

专利信息
申请号: 201780019413.6 申请日: 2017-02-10
公开(公告)号: CN108885243A 公开(公告)日: 2018-11-23
发明(设计)人: 瓶子司 申请(专利权)人: KYB株式会社
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02;G01R33/07;G01B7/00;G01D5/14
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 磁检测单元(51、52)包括:第1磁体(53),其用于产生第1磁场;第2磁体(54),其与第1磁体(53)并列配置,该第2磁体(54)用于产生方向与第1磁场的方向相反的第2磁场;以及霍尔元件(56),其具有磁通检测面(56a),该霍尔元件(56)用于输出与通过磁通检测面(56a)的磁通密度相应的信号。霍尔元件(56)配置在由第1磁场和第2磁场形成的合成磁场的磁通的方向与磁通检测面(56a)平行的位置。
搜索关键词: 磁场 磁检测单元 磁通检测 霍尔元件 磁通 行程检测装置 并列配置 方向相反 合成磁场 平行 输出 配置
【主权项】:
1.一种磁检测单元,其中,该磁检测单元包括:第1磁场产生部,其用于产生第1磁场;第2磁场产生部,其与所述第1磁场产生部并列配置,该第2磁场产生部用于产生方向与所述第1磁场的方向相反的第2磁场;以及磁检测元件,其具有磁通检测面,该磁检测元件用于输出与通过所述磁通检测面的磁通密度相应的信号,所述磁检测元件配置在由所述第1磁场和所述第2磁场形成的合成磁场的磁通的方向与所述磁通检测面平行的位置。
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