[发明专利]探伤装置以及利用探伤装置的缺陷检测方法在审
| 申请号： | 201780019559.0 | 申请日： | 2017-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN108885193A | 公开（公告）日： | 2018-11-23 |
| 发明（设计）人： | 西泽慎一;松本谦二;一本哲男 | 申请（专利权）人： | 码科泰克株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/84 | 分类号： | G01N27/84;G01N21/91 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 陈伟;李文屿 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在具备拍摄被检查物的相机、和从由相机取得的原图像检测被检查物的缺陷的检测装置的磁粉探伤装置中，检测装置具有缺陷判定部，该缺陷判定部，在从原图像提取出的缺陷候选部(43)的在长轴方向上具有预先确定的长度的宽度算出区域(Lc)中、缺陷候选部(43)收敛于与缺陷候选部(43)的长轴方向平行的2条直线(s1、s2)之间、且2条直线(s1、s2)之间的距离(宽度w)在预先确定的范围内的情况下，将缺陷候选部(43)判定为缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 被检查物 检测装置 缺陷判定 探伤装置 预先确定 原图像 长轴 相机 磁粉探伤装置 方向平行 缺陷检测 收敛 判定 拍摄 检测 | ||
【主权项】：
1.一种探伤装置，具备：对被检查物进行拍摄的输入装置；和检测装置，其从由所述输入装置取得的原图像检测所述被检查物的缺陷，所述探伤装置的特征在于，所述检测装置具有缺陷判定部，所述缺陷判定部，在从所述原图像提取出的缺陷候选部的在长轴方向上具有预先确定的长度的宽度算出区域中、所述缺陷候选部收敛于与所述缺陷候选部的所述长轴方向平行的2条直线之间、且2条直线之间的距离即宽度在预先确定的范围内的情况下，将所述缺陷候选部判定为所述缺陷。
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