[发明专利]二次电池劣化估计装置和二次电池劣化估计方法有效
申请号: | 201780020722.5 | 申请日: | 2017-03-28 |
公开(公告)号: | CN109073708B | 公开(公告)日: | 2021-07-27 |
发明(设计)人: | 光山泰司;佐藤悦藏;岩根典靖;内野直孝;成井公一;大野丹;森川孝行 | 申请(专利权)人: | 古河电气工业株式会社;古河AS株式会社 |
主分类号: | G01R31/392 | 分类号: | G01R31/392;G01R31/389;G01R31/396;H01M10/48 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 准确地估计各个种类的二次电池的劣化,并且,无关乎二次电池的状态而准确地估计劣化。一种二次电池劣化估计装置,其估计二次电池的劣化,具有:求出单元(CPU10a),其求出构成二次电池的等效电路的成分;存储单元(RAM 10c),其存储二次电池的使用状态的历史;第1估计单元(CPU10a),其根据由求出单元所求出的构成等效电路的成分来估计二次电池的劣化状态;第2估计单元(CPU10a),其根据存储单元中所存储的使用状态的历史来估计二次电池的劣化状态;以及判定单元(CPU10a),其根据二次电池的状态而参照第1估计单元的估计结果和第2估计单元的估计结果中的至少一方,来判定二次电池的劣化状态。 | ||
搜索关键词: | 二次 电池 估计 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种二次电池劣化估计装置,其估计二次电池的劣化,该二次电池劣化估计装置的特征在于,具有:求出单元,其求出构成所述二次电池的等效电路的成分;存储单元,其存储所述二次电池的使用状态的历史;以及第1估计单元,其根据由所述求出单元所求出的构成所述等效电路的成分来估计所述二次电池的劣化状态;第2估计单元,其根据所述存储单元所存储的所述使用状态的历史来估计所述二次电池的劣化状态;以及判定单元,其根据所述二次电池的状态而参照第1估计单元的估计结果和所述第2估计单元的估计结果中的至少一方,对所述二次电池的劣化状态进行判定。
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