[发明专利]用于检测颗粒的方法和传感器系统在审
| 申请号： | 201780021540.X | 申请日： | 2017-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN109073563A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 扬·埃嫩克尔 | 申请（专利权）人： | AMS有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/85 | 分类号： | G01N21/85 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 谢攀;刘继富 |
| 地址： | 奥地利普*** | 国省代码： | 奥地利;AT |
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| 摘要： | 一种用于检测颗粒的方法包括由发射器单元(EU)沿指定发射方向向测量室(MC)中发射光的第一脉冲(P1)，在第一时间窗口(TW1)期间由光敏元件检测第一反射部分(RF1)，以及根据第一反射部分(RF1)的检测确定颗粒数量。用于从发射器单元(EU)发射的、从反射器(R)反射的并且由光敏元件检测到的光射线的最小长度路径由发射方向且由反射器(R)、发射器单元(EU)和光敏元件的相互布置来限定。第一脉冲(P1)的起始时间与第一时间窗口(TW1)的结束时间之差小于沿最小长度路径传播的光的飞行时间。 | ||
| 搜索关键词： | 发射器单元 反射 光敏元件检测 反射器 脉冲 发射 检测 传感器系统 光敏元件 测量室 发射光 光射线 飞行 传播 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测存在于测量室(MC)中的介质中的颗粒的方法，所述方法包括：‑由发射器单元(EU)沿所述发射器单元(EU)的指定发射方向将光的第一脉冲(P1)发射至测量室(MC)中；‑由光敏元件在第一时间窗口(TW1)期间检测第一脉冲的第一反射部分(RF1)；以及‑根据第一时间窗口(TW1)期间的检测来确定介质中的颗粒数量；‑其中用于由发射器单元(EU)发射的、从测量室(MC)的反射器(R)反射的且由光敏元件检测到的光射线的最小长度路径由所述发射方向且由反射器(R)、发射器单元(EU)和光敏元件的相互布置来限定；以及‑其中第一脉冲(P1)的起始时间与第一时间窗口(TW1)的结束时间之差小于沿最小长度路径传播的光的飞行时间。
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