[发明专利]长尺寸片材的厚度测量方法以及厚度测量系统有效

专利信息
申请号: 201780023003.9 申请日: 2017-02-22
公开(公告)号: CN108885096B 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 设乐久敬 申请(专利权)人: 株式会社PSM国际;博西迈科思公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08;D21F7/06;G01B11/08
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;孙荀
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种长尺寸片材的厚度测量方法以及厚度测量系统,通过将流动方向分量和宽度方向分量分离的方式来测量纸的厚度,不需要以往的使用放射线的基重仪,采用非扫描、非过滤方式,也能够应用于小型的抄纸机,并且经济效益高。本发明的长尺寸片材的厚度测量方法为对于一边被按压于卷筒(12)一边被卷绕于卷轴(16)的长尺寸片材(W)测量其厚度的厚度测量方法,在非接触的状态下测量长尺寸片材(W)所形成的卷绕辊(R)的辊径的增加量,同时,测量卷轴(16)的旋转次数,通过使用所测量的辊径的增加量和旋转次数的运算,求得长尺寸片材的厚度。
搜索关键词: 尺寸 厚度 测量方法 以及 测量 系统
【主权项】:
1.一种长尺寸片材的厚度测量方法,其为对于被按压于卷筒的同时被卷绕于卷轴的长尺寸片材测量其厚度的厚度测量方法,其特征在于,通过非接触方式测量所述长尺寸片材形成的卷绕辊的辊径的增加量,同时,测量所述卷轴的旋转次数,通过使用所测量的辊径的增加量和旋转次数的运算,求得所述长尺寸片材的厚度。
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