[发明专利]用于验证TDLAS系统操作的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201780023121.X 申请日: 2017-03-21
公开(公告)号: CN109073548B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 戴夫·吉尔特纳;安德鲁·D·萨佩 申请(专利权)人: 正点技术有限公司
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39;B01D53/34;B01D53/56;B01D53/74;B01D53/94;F23N5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李博
地址: 美国堪*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了用于验证TDLAS系统操作的方法和设备。处理室内的气体种类特征的感测包括将第一选定激射频率的光束选择性地投射穿过其中。所述光束光学耦合到检测器,以检测具有气体种类特征所引起的选定激射频率下的吸收凹陷的处理透射光谱。所述光束选择性地投射穿过形成于光纤纤芯中的光纤布拉格光栅,以部分地反射所述第一选定激射频率的所述光束的至少一部分,同时透过所述光束的其余部分。所述光束的所述其余部分具有FBG透射光谱,其模拟关注的气体种类特征所引起的所述选定激射频率下或附近的所述吸收凹陷。所述光束的所述其余部分光学耦合到所述检测器。监测所述检测器的输出以将所述FBG透射光谱与所述处理室中产生的任何处理透射光谱进行比较。
搜索关键词: 用于 验证 tdlas 系统 操作 方法 设备
【主权项】:
1.一种感测设备,包括:至少一个二极管激光器,所述至少一个二极管激光器产生第一选定激射频率的输出光束,所述至少一个二极管激光器光学耦合到光纤的输入;投射侧光束控制器,所述投射侧光束控制器包括分束器或光开关中的至少一者,所述光束控制器具有光学耦合到所述光纤的输出的至少一个输入以及至少两个输出;所述至少两个输出中的至少一者光学耦合到投射光学件,所述投射光学件与处理室操作地相关联并且被取向成将所述至少一个二极管激光器的所述输出光束投射穿过所述处理室;捕集光学件,所述捕集光学件与所述处理室操作地相关联并与所述投射光学件进行光学通信以接收投射穿过所述处理室的所述至少一个二极管激光器的所述输出光束;捕集侧光纤,所述捕集侧光纤具有输入侧和输出侧,所述输入侧光学耦合到所述捕集光学件;捕集侧光束控制器,所述捕集侧光束控制器包括光开关,所述捕集侧光束控制器具有至少两个输入和一个输出;检测器,所述检测器光学耦合到所述光束控制器输出,所述检测器对所述选定激射频率敏感;FBG光纤,所述FBG光纤具有输入和输出,所述FBG光纤包括形成于所述FBG光纤的纤芯中的至少一个光纤布拉格光栅,所述至少一个光纤布拉格光栅被构造为部分地反射所述第一选定激射频率的激光束,同时透过所述激光束的至少一部分到所述FBG光纤输出,所述FBG光纤输入光学耦合到所述投射侧光束控制器的所述至少两个输出中的另一者,并且所述FBG光纤输出光学耦合到所述捕集侧光束控制器的输入。
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