[发明专利]层叠配线膜及薄膜晶体管元件在审

专利信息
申请号: 201780029216.2 申请日: 2017-05-10
公开(公告)号: CN109155243A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 志田阳子;后藤裕史 申请(专利权)人: 株式会社神户制钢所
主分类号: H01L21/285 分类号: H01L21/285;C22C9/01;C22C9/04;C22C9/05;C23C14/14;C23C14/34;H01L21/28;H01L29/417;H01L29/423;H01L29/49
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马爽;臧建明
地址: 日本兵库县神户市*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种层叠配线膜,其具备包含电阻为10μΩcm以下的Cu或Cu合金的配线层、以及设于所述配线层的上层及下层中的至少一者的包含Cu与X元素的Cu‑X合金层,X元素为选自由Al、Mn、Zn以及Ni所组成的X群组中的至少一种,构成Cu‑X合金层的金属为特定的组成系。根据本发明的层叠配线膜,可提供一种电阻低、无利用CVD法的层间绝缘膜的SiOx成膜中的剥离、且即使进行400℃以上的高温热处理也无电阻上升的层叠配线膜。
搜索关键词: 配线膜 电阻 合金层 配线层 薄膜晶体管元件 层间绝缘膜 高温热处理 成膜 群组 下层 剥离 上层 金属 自由
【主权项】:
1.一种层叠配线膜,其特征在于,具备:包含电阻为10μΩcm以下的Cu或Cu合金的配线层、以及设于所述配线层的上层及下层中的至少一者的包含Cu与X元素的Cu‑X合金层,所述X元素为选自由Al、Mn、Zn以及Ni所组成的X群组中的至少一种,构成所述Cu‑X合金层的金属为下述(1)~(5)中的任一组成系,配线图案的宽度为10μm以下:(1)只包含所述X群组中的一种元素,其含量为6at%以上且27at%以下。(2)包含4at%以上且15at%以下的Al,进而包含5at%以上且10at%以下的Mn。(3)包含5at%以上且10at%以下的Zn,进而包含5at%以上且26at%以下的Mn。(4)包含4at%以上且14at%以下的Zn,进而包含5at%以上且15at%以下的Al。(5)包含5at%以上且10at%以下的Al,进而包含2at%以上且10at%以下的Ni。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社神户制钢所,未经株式会社神户制钢所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201780029216.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top