[发明专利]层叠配线膜及薄膜晶体管元件在审
申请号: | 201780029216.2 | 申请日: | 2017-05-10 |
公开(公告)号: | CN109155243A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | 志田阳子;后藤裕史 | 申请(专利权)人: | 株式会社神户制钢所 |
主分类号: | H01L21/285 | 分类号: | H01L21/285;C22C9/01;C22C9/04;C22C9/05;C23C14/14;C23C14/34;H01L21/28;H01L29/417;H01L29/423;H01L29/49 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 马爽;臧建明 |
地址: | 日本兵库县神户市*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种层叠配线膜,其具备包含电阻为10μΩcm以下的Cu或Cu合金的配线层、以及设于所述配线层的上层及下层中的至少一者的包含Cu与X元素的Cu‑X合金层,X元素为选自由Al、Mn、Zn以及Ni所组成的X群组中的至少一种,构成Cu‑X合金层的金属为特定的组成系。根据本发明的层叠配线膜,可提供一种电阻低、无利用CVD法的层间绝缘膜的SiOx成膜中的剥离、且即使进行400℃以上的高温热处理也无电阻上升的层叠配线膜。 | ||
搜索关键词: | 配线膜 电阻 合金层 配线层 薄膜晶体管元件 层间绝缘膜 高温热处理 成膜 群组 下层 剥离 上层 金属 自由 | ||
【主权项】:
1.一种层叠配线膜,其特征在于,具备:包含电阻为10μΩcm以下的Cu或Cu合金的配线层、以及设于所述配线层的上层及下层中的至少一者的包含Cu与X元素的Cu‑X合金层,所述X元素为选自由Al、Mn、Zn以及Ni所组成的X群组中的至少一种,构成所述Cu‑X合金层的金属为下述(1)~(5)中的任一组成系,配线图案的宽度为10μm以下:(1)只包含所述X群组中的一种元素,其含量为6at%以上且27at%以下。(2)包含4at%以上且15at%以下的Al,进而包含5at%以上且10at%以下的Mn。(3)包含5at%以上且10at%以下的Zn,进而包含5at%以上且26at%以下的Mn。(4)包含4at%以上且14at%以下的Zn,进而包含5at%以上且15at%以下的Al。(5)包含5at%以上且10at%以下的Al,进而包含2at%以上且10at%以下的Ni。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社神户制钢所,未经株式会社神户制钢所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201780029216.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于半导体处理的气体分配喷头
- 下一篇:粘接膜及切割芯片接合一体型膜
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造