[发明专利]用于即时内部反射荧光/结构化照明显微术的系统和方法在审
申请号: | 201780030158.5 | 申请日: | 2017-08-23 |
公开(公告)号: | CN109154715A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | H.史罗夫;J.塔拉斯卡;J.吉安尼尼;A.库马;M.郭;Y.吴 | 申请(专利权)人: | 美利坚合众国;由健康及人类服务部部长代表 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00;G02B26/10;G02B27/58 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 胡琪 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 公开了涉及用于即时结构化显微术的系统和方法的实施例,其中全内反射荧光技术用于改善结构化照明显微术的光学切片和信噪比。 | ||
搜索关键词: | 显微术 结构化照明 内部反射 全内反射 荧光技术 结构化 信噪比 荧光 切片 | ||
【主权项】:
1.一种用于结构化照明显微术的系统,包括:光源,其用于生成激发光束;第一微透镜阵列,其用于将激发光束分成激发焦点的阵列;第一透镜,其沿第一轴对准并且位于远离所述第一微透镜阵列的焦点一个焦距处,所述第一透镜对所述激发焦点的阵列聚焦;径向孔径挡块,其沿第一轴对准,位于所述第一透镜的前焦平面处,所述径向孔径挡块被配置为阻挡所述激发焦点的阵列的多个低角度中心光线,同时允许所述激发焦点的阵列的多个高角度边缘光线通过所述径向孔径挡块,其中高角度边缘光线由所述第一透镜沿高角度聚焦,并且低角度中心光线由所述第一透镜沿低角度聚焦;检流计镜,其被对准并定位以用于重定向并扫描高角度边缘光线通过物镜,所述物镜用以沿样本聚焦被重定向的高角度边缘光线,从而由所述样本生成激发,然后来自所述样本的激发被重扫描以在第二微透镜阵列上生成图案化荧光发射,所述第二微透镜阵列用以将所述图案化荧光发射局部收缩成荧光发射的收缩图案;以及镜布置,其用于将收缩的图案化荧光发射重定向到检测器上,所述检测器用以检测由所述样本发出的图案化荧光发射。
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