[发明专利]在半导体基板上的层的形成有效
申请号: | 201780030457.9 | 申请日: | 2017-04-04 |
公开(公告)号: | CN109155240B | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | M.克尔曼;Z.贾;S.纳格;R.迪蒂兹奥 | 申请(专利权)人: | 艾克斯特朗欧洲公司 |
主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 史新宏 |
地址: | 德国黑*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 这里描述的是用于在基板上形成外延III‑V层的技术。在预清洁室中,通过用氢等离子体(或等离子体分解产物)处理基板,可以用钝化层代替天然氧层。在沉积室中,基板的温度可以升高到低于700℃的温度。在基板温度升高的同时,组V前体可以流入沉积室,以便将钝化层的氢封端(Si‑H)表面转变成砷封端(Si‑As)表面。在基板已经冷却之后,可以使组III前体和组V前体流动以形成成核层。最后,在升高的温度下,可以使组III前体和组V前体流动以形成体III‑V层。 | ||
搜索关键词: | 半导体 基板上 形成 | ||
【主权项】:
1.一种在基板上生长外延III‑V层的方法,该方法包括:在预清洁室中,当基板处于第一温度T1时,将基板暴露于等离子体、等离子体分解产物、或等离子体和等离子体分解产物两者,以便从基板上移除自然氧化物,并在基板上形成钝化层,其中T1大于室温;在无氧环境中,(a)将基板从预清洁室转移到沉积室,和(b)将基板从T1冷却到第二温度T2;和在沉积室中,(a)将基板从T2加热到第三温度T3,以移除基板上的钝化层,和(b)在基板上生长外延III‑V层,其中50℃
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造