[发明专利]用于半导体处理的气体分配喷头有效
申请号: | 201780031024.5 | 申请日: | 2017-04-20 |
公开(公告)号: | CN109155242B | 公开(公告)日: | 2023-05-09 |
发明(设计)人: | A·N·恩古耶;D·卢博米尔斯基;M·T·萨米尔 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L21/683;H01L21/687 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 杨学春;侯颖媖 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 于此所公开的实施例通常关于用于提供处理气体到半导体处理腔室中的改进的均匀分配的气体分配组件。气体分配组件包括气体分配板、区隔板和双区喷头。气体分配组件提供独立的中心到边缘的流动地带性、独立的两种前驱物输送、经由混合歧管的两种前驱物混合及气体分配板中的递归质量流量分配。 | ||
搜索关键词: | 用于 半导体 处理 气体 分配 喷头 | ||
【主权项】:
1.一种气体分配组件,包含:气体分配板,包含:至少一个气体供应入口;多个通道,形成可操作地连接到所述气体供应入口的路径分流歧管;及第一多个气体孔,设置在所述多个通道内并穿过所述气体分配板;区隔板,耦接到所述气体分配板,所述区隔板包含:内区,包含第二多个气体孔;外区,包含第三多个气体孔;及第一阻障壁,将所述内区与所述外区分开;双区喷头,耦接到所述区隔板,所述双区喷头包含:内区,包含第四多个气体孔;外区,包含第五多个气体孔;及沟槽,设置在所述内区与所述外区之间,其中所述沟槽经配置以接受所述第一阻障壁,使得所述双区喷头的内区与所述双区喷头的外区实体分离;及其中所述第二多个气体孔和所述第四多个气体孔经图案化以避免同轴流动,且其中所述第三多个气体孔和所述第五多个气体孔经图案化以避免同轴流动。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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