[发明专利]用于亚波长分辨率成像的超透镜在审

专利信息
申请号: 201780031669.9 申请日: 2017-04-05
公开(公告)号: CN109196387A 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: F·卡帕索;W·T·陈;R·C·德弗林;M·科拉沙尼内加德;J·欧;A·朱;C·罗格斯-卡梅斯;I·米施拉 申请(专利权)人: 哈佛学院院长及董事
主分类号: G02B1/00 分类号: G02B1/00;G02B3/02;G02B5/18
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 刘前红
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 具有相位分布的超透镜包括基板和设置在基板上的多个纳米结构。所述纳米结构中的每个个体纳米结构赋予光相移,该光相移根据该个体纳米结构在基板上的位置而变化。纳米结构的光相移限定超透镜的相位分布。能够通过例如改变纳米鳍的朝向或改变纳米柱的直径来实现变化的光相移。
搜索关键词: 纳米结构 相移 透镜 基板 相位分布 纳米柱 亚波长 分辨率 成像 赋予
【主权项】:
1.一种具有相位分布的超透镜,包括:基板;和设置在基板上的多个纳米结构,其中所述纳米结构中的每个个体纳米结构赋予根据该个体纳米结构在基板上的位置而变化的光相移,并且纳米结构的光相移限定超透镜的相位分布。
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