[发明专利]中子检测装置的操作状态验证方法有效
| 申请号： | 201780031692.8 | 申请日： | 2017-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN109154673B | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | M·埃瓦特塞恩科-博霍;R·洛 | 申请（专利权）人： | 赛默飞世尔科学测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01T3/00 | 分类号： | G01T3/00;G01V5/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈洁;姬利永 |
| 地址： | 德国埃*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种验证中子检测装置的操作状态的方法包含至少部分地将包含中子检测器的中子检测装置围封在具有包括热中子吸收材料的外壁的容器中，以及确定所述中子检测装置的衰减中子计数率。所述方法然后包含从所述容器中移除所述中子检测装置，将所述中子检测装置暴露于源自宇宙射线背景的中子辐射，确定所述中子检测装置的操作中子计数率，确定所述操作中子计数率与所述衰减中子计数率之间的比率，以及如果所述操作中子计数率比所述衰减中子计数率高至少预定量并且所述比率在预定范围内，那么验证所述中子检测装置的操作状态。 | ||
| 搜索关键词： | 中子 检测 装置 操作 状态 验证 方法 | ||
【主权项】：
1.一种验证中子检测装置的操作状态的方法，所述方法包括：a.至少部分地将包含中子检测器的中子检测装置围封在具有包括热中子吸收材料的外壁的容器中；b.确定所述中子检测装置的衰减中子计数率；c.从所述容器中移除所述中子检测装置；d.将所述中子检测装置暴露于源自宇宙射线背景的中子辐射；e.确定所述中子检测装置的操作中子计数率；f.确定所述操作中子计数率与所述衰减中子计数率之间的比率；以及g.如果所述操作中子计数率比所述衰减中子计数率高至少预定量并且所述比率在预定范围内，那么验证所述中子检测装置的操作状态。
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