[发明专利]用于确定金属产品微观结构的设备和方法以及冶金系统有效
| 申请号： | 201780032564.5 | 申请日： | 2017-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN109564206B | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | M·比格拉里;U·萨默斯;C·克林肯贝格;M·雷纳;G·雷蒙德;O·彭西斯;T·特劳;H·克劳特豪泽 | 申请（专利权）人： | 西马克集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/204 | 分类号： | G01N33/204;G01N23/20008;B21B38/08;C21D9/56;C21D11/00 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 郑勇 |
| 地址： | 德国杜塞*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于在冶金生产金属产品(2)期间确定该金属产品(2)的微观结构的设备(1)，包括至少一个X射线源(3)、至少一个X射线探测器(4)和至少一个容纳室(5,7)，其内部布置有X射线源(3)和/或X射线探测器(4)并且其包括至少一个X射线能穿透的窗体(6,8)。所述设备(1)包括至少一个用于主动冷却容纳室(5,7)的冷却装置(9)，以便在金属产品(2)的冶金生产期间能够可靠地确定其微观结构。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 金属产品 微观 结构 设备 方法 以及 冶金 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于在冶金生产金属产品(2)期间确定所述金属产品(2)的微观结构的设备(1)，包括至少一个X射线源(3)、至少一个X射线探测器(4)和至少一个容纳室(5,7)，其内部布置有所述X射线源(3)和/或所述X射线探测器(4)并且其包括至少一个X射线能穿透的窗体(6,8)，其特征在于至少一个用于主动冷却所述容纳室(5,7)的冷却装置(9)。
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