[发明专利]安装装置和安装方法在审
申请号: | 201780032721.2 | 申请日: | 2017-03-21 |
公开(公告)号: | CN109155262A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | 水谷义人;朝日昇;仁村将次 | 申请(专利权)人: | 东丽工程株式会社 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/52;H05K13/04 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 于靖帅;乔婉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供安装装置和安装方法,当对利用热硬化性树脂临时固定在硅晶片等热传导率高的基板上的半导体芯片进行热压接时,不会给热压接对象以外的半导体芯片带来不良影响。具体而言,提供安装装置和安装方法,该安装装置对借助热硬化性粘接剂而临时固定在基板上的多个半导体芯片进行热压接,其中,该安装装置具有:压接头,其用作按压面,将包含一个以上的半导体芯片的区域作为加压区域进行按压;压接台,其从所述基板的背面对所述加压区域进行支承;以及冷却单元,其对与所述加压区域的周围相邻的半导体芯片进行冷却。 | ||
搜索关键词: | 半导体芯片 安装装置 加压区域 热压接 基板 临时固定 热硬化性粘接剂 按压 热硬化性树脂 冷却单元 热传导率 按压面 硅晶片 压接头 压接 支承 冷却 | ||
【主权项】:
1.一种安装装置,其对借助热硬化性粘接剂而临时固定在基板上的多个半导体芯片进行热压接,其中,该安装装置具有:压接头,其用作按压面,将包含一个以上的半导体芯片的区域作为加压区域进行按压;压接台,其从所述基板的背面对所述加压区域进行支承;以及冷却单元,其对与所述加压区域的周围相邻的半导体芯片进行冷却。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造