[发明专利]通过自适应空间采样获取和形成光谱测定图像的方法有效

专利信息
申请号: 201780035808.5 申请日: 2017-04-03
公开(公告)号: CN109477759B 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 西蒙·里夏尔;塞巴斯蒂安·莱登;德米特里·库兹内佐夫 申请(专利权)人: 堀场(法国)有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/44;G01N21/65;G01J3/02
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 梁丽超;刘丹
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于获取和形成光谱测定图像(Pict)的方法,包括以下步骤:a)获取样本(1)的区域(4)的初始结构图像(IM0);b)分解初始结构图像(IM0),从而确定样本(1)的所述区域(4)的多尺寸空间采样;c)根据步骤b)中确定的多尺寸空间采样来确定样本的所述区域(4)的多个光谱测定测量位置(Xi,Yj);d)对于步骤c)中确定的各个光谱测定测量位置(Xi,Yj),相继地定位激发束并获取光谱测定测量;并且e)根据步骤d)中获取的光谱测定测量逐点地重建光谱测定图像(Pict)。
搜索关键词: 通过 自适应 空间 采样 获取 形成 光谱 测定 图像 方法
【主权项】:
1.一种用于获取和形成样本(1)的光谱测定图像(Pict)的方法,包括以下步骤:a)以数字方式获取所述样本(1)的区域(4)的初始结构图像(IM0),所述初始结构图像(IM0)包括排列成多行和多列的像素;b)以数字方式处理所述初始结构图像(IM0)以将所述初始结构图像(IM0)分解成与第一空间采样间距相关联的至少一个第一像素块和与第二空间采样间距相关联的第二像素块,所述第一空间采样间距大于所述第二空间采样间距,从而确定所述样本(1)的所述区域(4)的多尺度空间采样;c)根据在步骤b)确定的所述多尺寸空间采样来确定在所述样本的所述区域(4)中的多个光谱测定测量位置(Xi,Yj);d)对于在步骤c)确定的所述多个光谱测定测量位置的各个光谱测定测量位置(Xi,Yj),将激发束相继地定位在光谱测定测量位置(Xi,Yj)处,并且对于所述光谱测定测量位置(Xi,Yj)获取光谱测定测量;e)逐点地重建光谱测定图像(Pict),经重建的光谱测定图像(Pict)的各个点是由在步骤d)获取的一个或若干光谱测定测量获得的。
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