[发明专利]测量螺纹的设备有效
申请号: | 201780036130.2 | 申请日: | 2017-06-02 |
公开(公告)号: | CN109661560B | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | M·绍尔兰德;F·德霍恩 | 申请(专利权)人: | 西马克集团有限公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/245;B25J19/02 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 林伟峰 |
地址: | 德国杜塞*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于测量螺纹(1)的设备,其包括:夹具,用于以可拆卸的方式将管(2)夹住,其中所述螺纹(1)在所述管(2)的端部成型;具有光学传感器(5a)的第一光学测量段(5),其中光学测量段(5)安装在操作机(3)上,以便使测量段(5)相对于所述管(2)移动,而且其中所述光学测量段(5)能以相对于所述螺纹(1)的螺纹轴(A)能绕着调节轴(S1)可调节的方式倾斜,其中在所述操作机(3)上布置有具有第二光学传感器(5a)的第二光学测量段(5),其中光学测量段(5)总共构造出一个测量通道(4),用于同时测量所述螺纹(1)的对置的侧面。 | ||
搜索关键词: | 测量 螺纹 设备 | ||
【主权项】:
1.用于测量螺纹(1)的设备,所述设备包括:夹具,用于以可拆卸的方式将管(2)夹住,其中所述螺纹(1)在所述管(2)的端部成型;具有光学传感器(5a)的第一光学测量段(5),其中光学测量段(5)安装在操作机(3)上,以便使测量段(5)相对于所述管(2)移动,而且其中所述光学测量段(5)能以相对于所述螺纹(1)的螺纹轴(A)能绕着调节轴(S1)可调节的方式倾斜,其特征在于,在所述操作机(3)上布置有具有第二光学传感器(5a)的第二光学测量段(5),其中光学测量段(5)总共构造出一个测量通道(4),用于同时测量所述螺纹(1)的对置的侧面。
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