[发明专利]具有集成高对比度光栅偏振器的光电检测器设备

摘要

光电检测器包括：半导体材料的衬底(1)；衬底中的传感器区域(2)；布置在传感器区域上方彼此相隔距离(d)的多个栅格元件(4)，栅格元件具有折射率；低折射率区域(3)，布置在低折射率区域上的栅格元件；以及覆盖栅格元件的另外的低折射率区域(5)。

主权项

1.一种光电检测器设备，包括：‑半导体材料的衬底(1)，‑衬底(1)中的传感器区域(2)，用于检测电磁辐射，‑多个栅格元件(4)，其布置在传感器区域(2)的上方，彼此相隔距离(d)，所述栅格元件(4)具有折射率，‑低折射率区域(3、6)，所述栅格元件(4)布置在所述低折射率区域(3、6)上，以及‑另外的低折射率区域(5、15)，其覆盖栅格元件(4)。