[发明专利]用于表面微观纹理化的光学掩模的制造系统和方法,以及表面微观纹理化的装置和方法有效
申请号: | 201780038515.2 | 申请日: | 2017-06-21 |
公开(公告)号: | CN109416506B | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | M·比绍特;Y·乔琳;L·迪博 | 申请(专利权)人: | H.E.F.公司;让·莫纳圣埃蒂安大学;国家科学研究中心 |
主分类号: | G03F1/68 | 分类号: | G03F1/68;G03F7/20 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司 31266 | 代理人: | 徐迅;崔佳佳 |
地址: | 法国昂德雷*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于表面微观纹理化的光学掩模(35)的制造系统(2),所述系统(2)包括:具有待纹理化的表面(11)的基板(10);覆盖基板(10)表面(11)并具有暴露于外部环境的外表面(21)的材料层(20);生成和沉积装置,用于在所述材料层(20)的外表面(21)上生成和沉积液滴(30),所述液滴通过冷凝形成特定的排列(31),从而在所述材料层(20)的外表面(21)上形成光学掩模(35)。本发明还涉及包括所述类型的系统(2)的处理装置。本发明还涉及制备掩模的方法以及表面微观纹理化方法。 | ||
搜索关键词: | 用于 表面 微观 纹理 光学 制造 系统 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于表面微观纹理化的光学掩模(35)的制造系统(2),其特征在于,所述系统(2)包括:‑具有待纹理化表面(11)的基板(10);‑材料层(20),所述材料层(20)覆盖基板(10)的表面(11)并具有暴露于外部环境的外表面(21);和‑生成和沉积液滴的装置(40),所述生成和沉积液滴的装置(40)在材料层(20)的外表面(21)上生成和沉积液滴(30),所述液滴通过冷凝形成特定的排列(31),从而在材料层(20)的外表面(21)上形成光学掩模(35)。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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