[发明专利]用于勘探样本的X射线荧光(XRF)分析的方法和系统

摘要

一种用于确定含有无法由X射线荧光(XRF)直接检测出的浓度的金属的勘探样本中的所述金属的收集器装置包括吸附材料，所述吸附材料能够从通过消解所述勘探样本而产生的消解混合物中集中金属，所述吸附材料被配置成与XRF检测器的分析窗口相关联，以有助于确定所述勘探样本中的金属值的量。一种用于制备勘探样本以进行分析的样本制备器皿、方法和系统包括：器皿，所述器皿用于接纳所述勘探样本、消解片剂和消解介质；封闭件，其用于允许摇动所述器皿以产生包括溶解金属的消解混合物；以及所述收集器装置。所述封闭件与所述收集器装置相耦接，使得通过移除所述封闭件而从所述器皿取回收集器装置。所述消解片剂包括金属浸出剂和碱性化合物。

主权项

1.一种用于制备含有无法由X射线荧光(XRF)直接检测出的金属或准金属的勘探样本以便由XRF检测器进行分析的方法，所述方法包括：将所述勘探样本、消解介质以及消解组合物或消解片剂混合，所述消解组合物或消解片剂含有碱性化合物和金属浸出剂，所述金属浸出剂的量能够使所述勘探样本中的所述金属溶解在所述消解介质中，以产生含有溶解金属的消解混合物；以及使所述消解混合物与收集器装置接触，所述收集器装置包括吸附材料，所述吸附材料能够集中来自所述消解混合物的溶解金属，其中所述吸附材料被配置成与所述XRF检测器的分析窗口相关联，以有助于所述XRF检测器确定所述勘探样本中的金属量。