[发明专利]用于无接触式确定温度的方法以及红外测量系统在审
| 申请号： | 201780041059.7 | 申请日： | 2017-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN109716081A | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | M.弗兰克;V.森茨;M.巴德贾;A.伦贝格;M.克吕格;H.迪特默 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/08 | 分类号： | G01J5/08;G01J5/02;G01J5/06;G01J5/52;G01J5/62;G01J5/00;H04N5/33;H04N5/365 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 臧永杰;刘春元 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 所提出的用于无接触式确定表面（22）的温度、尤其无接触式确定表面（22）的温度分布的方法从以下红外测量系统（10，10a）出发：其至少具有：具有多个测量像元的（62）红外探测器阵列（36），测量像元分别提供测量信号，用于确定与入射的红外辐射的强度相关的温度测量值TMP（64），并且具有用于抑制红外辐射到红外探测器阵列（36）上的入射的闭锁机构，其中所述方法至少包括以下步骤：确定多个测量像元（62）的温度测量值ΤΜΡ（64）；分别以像元所属的温度漂移分量Tdrift（46）来校正温度测量值ΤΜΡ（64）。根据本发明，借助所述红外测量系统（10，10a）的所述闭锁机构（58）至少暂时地抑制红外辐射入射到所述红外探测器阵列（36）上，在此期间确定所述温度测量值TMPblind（66），并且；在使用温度测量值TMPblind（66）的情况下确定所述温度漂移分量Tdrift（46）。此外提出一种利用所述方法来运行的红外测量系统（10，10a）。 | ||
| 搜索关键词： | 温度测量 红外测量系统 像元 红外探测器阵列 红外辐射 无接触式 入射 闭锁机构 温度漂移 测量 测量信号 温度分布 校正 | ||
【主权项】：
1.一种用于借助红外测量系统（10，10a）无接触式确定表面（22）的温度、尤其用于无接触式确定表面（22）的温度分布的方法，其中，所述红外测量系统（10，10a）至少具有:﹒带有多个测量像元（62）的红外探测器阵列（36），其中所述多个测量像元分别提供测量信号，用于确定与入射的红外辐射的强度相关的温度测量值ΤΜΡ（64）；和﹒用于抑制红外辐射入射到所述红外探测器阵列（36）上的闭锁机构（58），其中所述方法至少包括以下步骤：﹒确定多个测量像元（62）的温度测量值ΤΜΡ（64）；﹒分别以像元所属的温度漂移分量Tdrift（46）来校正温度测量值ΤΜΡ（64），其特征在于，﹒借助所述红外测量系统（10，10a）的所述闭锁机构（58）至少暂时地抑制红外辐射入射到所述红外探测器阵列（36）上，在此期间确定温度测量值TMPblind（66），并且；﹒在使用温度测量值TMPblind（66）的情况下确定所述温度漂移分量Tdrift（46）。
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