[发明专利]使用辐射成像的体模设置和源到表面距离验证有效
| 申请号： | 201780041276.6 | 申请日： | 2017-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN109414235B | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | M·康斯坦丁;H·许 | 申请（专利权）人： | 瓦里安医疗系统公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 体模设置和源到表面距离(SSD)验证方法使用辐射图像。在示例性方法中，体模相对于辐射源被定位在支撑件上，使得体模的表面在SSD的期望值处或接近SSD的期望值处被水平地调平。然后，将辐射源定位在至少基于SSD的期望值来预先确定的机架角度处，使得来自辐射源的辐射的射线与位于SSD的期望值处的水平表面对准。使用来自预先确定的机架角度处的辐射源的辐射来采集图像。基于对图像的分析，执行验证，以确认体模的表面是否被定位在SSD的期望值处。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 辐射 成像 设置 表面 距离 验证 | ||
【主权项】：
1.一种方法，包括：将体模相对于辐射源定位在支撑件上，使得所述体模的表面被水平地调平，所述辐射源由围绕等中心可旋转的机架来支撑；将所述辐射源定位在至少基于SSD的期望值被预先确定的机架角度处，其中所述辐射源在所述机架角度处的所述定位允许：来自所述辐射源的辐射的射线与被定位在所述SSD的期望值处的水平表面对准；使用来自所述预先确定的机架角度处的所述辐射源的所述辐射，采集至少示出所述体模的所述表面的一部分的图像；基于对所述图像的分析，验证所述体模的所述表面是否被定位在所述SSD的期望值处。
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